高性能、高可靠的iData产品是如何炼成的？

从iData首款Windows Mobile系列终端到Android系列终端，以及即将推出的更高性能、全新设计的系列新品……iData任性地坚守着“高性能、高可靠，源自iData”的品牌理念，始终专注于为用户提供最好的移动物联终端产品。

那么，高性能、高可靠的iData产品到底是如何炼成的？下面就让我们来见证iData产品的一系列专业、可靠的性能测试！

高低温测试

模拟iData设备在低温（-20℃）和高温（60℃）环境下，检测产品依然能够正常工作和维护。

自由跌落测试

从1.5米高度对iData设备进行6面各3次的自由跌落测试，检测设备的抗摔性能和结构合理性。

滚筒微跌落测试

iData产品在1250px的滚筒箱，旋转100圈的微跌落实验，检测设备的外壳耐磨性和结构合理性。

按键测试和拔插测试

iData产品的高品质基因源于对材料的严格筛选，所有按键的打击和所有的接口的插拔都会通过寿命极限测试。

按键测试——对产品主按键进行50万次，侧按键5万次打击测试

拔插测试——将设备插孔与连接插针进行5000次插拔测试

ESD防静电测试

对iData产品进行静电放电，采用静电高压测试仪进行接触和间隙测试，确保干燥环境下静电对设备性能无任何影响。

机壳压力测试

对iData设备采用20kg的压力按压200次，产品外观无变形、无异常，功能正常。

电池性能测试

对电池进行综合参数测试，确保电池性能稳定。

iData全系产品同时要经过权威检测机构的多项资质认证。

微波暗室OTA测试

为了使iData产品有良好的无线通信性能，我们通过在微波暗室进行OTA测试，检测产品的通信辐射接收性能数据。

通信性能射频传导测试 TRP总发射功率/TIS接收灵敏度测试

EMC（Electro Magnetic Compatibility）电磁兼容测试

EMC主要分为电磁骚扰测试和电磁抗扰度测试，iData产品在研发及定型阶段都会委托国内一流的专业测试机构进行测试，以保证设备达到优秀的电磁兼容性能。

1. EMI（Electro-Magnetic Interference）---电磁骚扰测试

电磁骚扰测试主要用于检测iData设备所产生的电磁辐射对人体、公共电网以及其他正常工作之电器产品的影响。

辐射骚扰测试（高/低频段）

2.EMS（Electro-Magnetic Susceptibility）--电磁抗扰度测试

电磁抗扰度测试可以检测设备能否在电磁环境中稳定工作，以确保iData产品在各种电磁环境中使用不受影响。

射频电磁场辐射抗扰度测试

SAR（Specific Absorption Rate）测试

为了将电磁波辐射降低至一个合适的水平，iData每款产品还会进行SAR测试。

iData产品多个方位的SAR测试

每一台iData 设备，都能经受专业严酷的测试：防水防尘、耐高温、耐冲击、耐磨损，耐百万次敲击……

iData新一代移动物联终端广泛应用于移动医疗、零售、服装、物流、抄表、仓储、食品安全追溯、执法等各行业企业级移动应用领域，帮助海内外企业低成本快速实现移动作业，提升管理效益，提高生产力，获取更高的投资回报。欢迎咨询www.robertcron.com或020-87030040。